Wyzwania testowe dla urządzeń półprzewodników trzeciej generacji

Nie jest przesadą stwierdzenie, że urządzenia półprzewodników trzeciej generacji przyniosły innowacje w branży zasilania. W oparciu o ich dużą prędkość, niewielką rozmiar i niskie zużycie energii są one coraz częściej stosowane w branży elektroniki użytkowej i elektroniki energetycznej. Najpierw przyjrzyjmy się różnicom między urządzeniami mocy różnych technologii. Poniższy rysunek pokazuje, że tradycyjne IGBT opartych na SI lub MOSFET są rozmieszczone w zakresie wysokiego napięcia i niskiej prędkości, albo w zakresie niskiego napięcia i dużej prędkości. Tradycyjna technologia wykrywania na rynku może obejmować wymagania testowe dotyczące charakterystyki urządzenia. Jednak technologia urządzenia półprzewodnikowego trzeciej generacji SIC lub GAN ma tendencję do dojrzewania, ze względu na jego wysoką prędkość, wysokie wytrzymanie napięcia, oporność w wysokiej temperaturze, niewielki rozmiar i niskie zużycie energii, jest coraz bardziej używane w produktach do konwersji mocy , który różni się od tradycyjnej wydajności. Jednak urządzenia energetyczne oparte na SI znacznie rozszerzyły zakres dystrybucji, obejmując obszary o wysokim napięciu i szybkim poziomie, które nigdy wcześniej nie pojawiły się, co stanowi bardzo poważne wyzwanie dla narzędzi do testowania urządzeń.
W tym roku urządzenia SIC i GAN będą coraz częściej wykorzystywane w polach zasilacza komunikacyjnego 5G, nowego napędu energetycznych i pojazdów elektrycznych w nowej infrastrukturze wydanej przez kraj, co daje inżynierom więcej możliwości projektowania produktów do konwertera zasilania . Wiele możliwości przyniosło także nowe wyzwania projektowe.
Obecnie wielu inżynierów używa niskich charakterystyk przełączania do oceny urządzeń i projektowania obwodów napędowych w konstrukcji obwodów mostowych. Ponieważ istnieje odniesienie „naziemne”, wydaje się, że dopóki przepustowość i zasięg napięcia są zadowolone, wystarczy, ale w rzeczywistości wiele osób go ignoruje. W rzeczywistości napęd i charakterystyka strony wysokiego napięcia i strony niskiego napięcia nie są takie same, a testu górnego rurki nie można obliczyć na podstawie testu rurki w dół, ale dlaczego inżynierowie tak naprawdę nie testują wysokiego poziomu -Przewodowe strony VGS? Głównie dlatego, że obecnie nie ma odpowiedniej sondy i metody do przetestowania dokładnego sygnału napędu bocznego wysokiego napięcia, wpłynie na niego ograniczenie przepustowości, ograniczenie współczynnika odrzucenia trybu wspólnego, zakłócenia sygnału itp., Więc można go oszacować tylko na podstawie spekulacji lub symulacja, która jest bardzo duża. Do pewnego stopnia zwiększa się niepewność projektowania produktu, a nawet istnieje duże ryzyko bezpieczeństwa.
APM to zaawansowane technologicznie przedsiębiorstwo integrujące niezależne badania i rozwój, produkcję, sprzedaż i usługi. Z źródłem testu/obciążenia jako podstawowym produktem, zapewniamy pełny zakres kompleksowych rozwiązań i usług. Produkty są szeroko stosowane w lotniczej, nowej energii, elektronice energetycznej, inteligentnej produkcji, badaniach naukowych i edukacji oraz innych powiązanych dziedzin.
Przy wielu latach głębokiego doświadczenia technicznego i produkcji kompleksowo promował lokalizację precyzyjnych instrumentów i sprzedawał ją na całym świecie własną marką. Jednocześnie utrzymuje długoterminowe strategiczne relacje spółdzielcze z krajowymi i zagranicznymi zespołami badań naukowych, bada zaawansowane technologie i granice zastosowań w dziedzinie pomiarów oraz stale promuje iterację produktów i innowacje, zasadniczo zapewniając, że produkty i usługi są w stanie wiodąca pozycja w branży. Zawsze przestrzegamy filozofii biznesowej „profesjonalizmu, innowacji, marki i usługi”, zapewniają klientom wyższą wartość dodaną i usługi, koncentruje się na dziedzinie testowania i staramy się stać się światowej klasy dostawcą rozwiązań elektronicznych testowania, obsługujące światowy klient.